射频功放自动测试系统研究文献综述

 2022-07-14 21:18:05

文献综述

射频功放自动测试系统研究

摘 要:本文介绍介绍了Labview为开发平台设计的射频功率放大器自动测试系统。该系统通过优化的测试流程对仪器设备进行集中管理,实现了功率放大器几乎所有指标的自动测量;实现了通路校准,图、表、参数生成,文档的输入输出;实现了测试过程中的自动保护。相比传统人工测试方法,该系统提供的自动测试过程快捷、安全,测试结果更准确、完整。

关键词:功率放大器 自动测试系统 GPIB labview

一、射频功放自动测试系统的目的和意义

目前的设计、生产、测试领域,对于大功率放大器的测试多数采用手动测试或者简单的自动测试,给新产品的设计,已有产品的维护和升级造成很大的困难,最终影响新技术的应用、产品开发速度、制造效率等。功率放大器的设计功率随着应用范围不同输出功率变化很大,使手动测试对测试环境有很大的局限性 ;测试设备功能越来越强大和复杂,手动操作设备的培训成本很高昂,并且误操作的风险很大;使用手动测试构建复杂的测试环境和时间很久,进行一项完整的测试需要配合使用很多不同的设备,需要几个小时甚至更长时间才能完成一个产品测试,使生产和实验效率极其低下;简单的自动测试能在一定程度提升效率和避免误操作,但是由于测试系统设计通用性不足,使测试设备使用效率低下,产品型号更换需要重新开发,造成成本的极大浪费和经济损失。该方案有效提高了仪表利用效率,节省了人力成本,缩短了测试周期。

二、国内外研究概况

1965年,惠普公司(Hewlett-Packard)设计了惠普接口总线(HP-IB,让计算机与测试仪器对话成为可能。GPIB驱动为计算机与测试仪器的对话铺平了道路。

较完善的自动测试设备是60年代采用电子计算机以后才问世的。将计算机与测试设备融为一体,用计算机软件代替传统设备中某些硬件的功能,能用计算机产生激励,完成测试功能,生成测试程序。

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